晶圓切割——崩邊原因分析及解決方法
晶圓切割主要采用金剛石砂輪刀片即輪轂型硬刀,半導體從業(yè)者不斷尋求能提高加工質(zhì)量和加工效率的方法,以達到更低的加工成本。西斯特科技(SST)在半導體切割刀片領(lǐng)域有著(zhù)深入的研究及技術(shù)積累,能夠更好地為半導體產(chǎn)業(yè)的發(fā)展服務(wù),解決加工過(guò)程中普遍存在的問(wèn)題,如晶圓切割過(guò)程中的正崩和背崩。本文將分享從切割現場(chǎng)積累的經(jīng)驗供半導體從業(yè)者參閱;
一、表面崩邊
晶圓表面崩邊(正崩)可分為三種類(lèi)型:初期chipping/重復循環(huán)chipping /其他chipping
1、初期chipping
主要指新刀片裝機預切割階段出現的產(chǎn)品表面崩缺,產(chǎn)生原因可能有三個(gè)方面:
①刀片安裝傾斜;
②刀片未修成真圓;
③金剛石未完全暴露,沒(méi)有產(chǎn)生容削槽。
解決方法:①檢查刀片安裝精度;②修刀,修整刀片同心度;③重新進(jìn)行預切割,充分暴露金剛石。
2、循環(huán)chipping
原因:
切割過(guò)程中出現重復循環(huán)崩邊主要原因有三個(gè)方面:
1. 刀片表面受到?jīng)_擊;
2. 刀片表面有大顆粒金剛石突起;
3. 刀片表面有其他外來(lái)雜質(zhì)黏附。
解決方法:
1. 檢查刀刃表面是否有產(chǎn)品飛料沖擊痕跡;
2. 在顯微鏡下觀(guān)察刀刃部分是否存在大顆粒突起;
3. 在高倍顯微鏡下面觀(guān)察刀刃表面是否有異物粘黏(如殘膠,金屬)等;
3、其他chipping
原因:
切割過(guò)程中出現異常崩邊主要原因有三個(gè)方面:
1.工件有移位變形
2.進(jìn)給速度和切割深度
3.高轉速刀片偏擺
解決方法:
1.增加貼膜后烘烤溫度和時(shí)間以及更換基材材質(zhì)
2.根據工件材質(zhì)調整合適的加工參數
3.檢測設備主軸精度和刀片動(dòng)平衡精度
二、背面崩邊
1.產(chǎn)生背崩后主要考察方向有三個(gè):
2.切割刀片
3.工件/固定膠膜
4.加工參數
晶圓背崩與刀片5個(gè)強相關(guān)因素:
1. 刀片預切割前比預切割后背面崩邊尺寸大
2. 刀片金剛石顆粒越大背面崩邊尺寸越小
3. 刀片磨料集中度越低,背面崩邊尺寸越小
4. 刀片結合劑越軟,背面崩邊尺寸越小
5. 刀刃越薄,背面崩邊尺寸越小
解決方法:
1.新刀使用修刀板修刀及執行預切割;
2.選擇合適目數的刀片作為切斷刀片(建議3000-3500目);
3.選擇低集中度刀片作為切斷刀片(建議50-70);
4.選擇較軟結合劑配方作為切斷刀片;
5.選擇較薄刀片作為切斷刀片。
晶圓背崩與固定耗材3大強相關(guān)因素:
1. 固定方法(石蠟、膠膜、夾具)
2. 固定力
3. 固定輔材(膠層厚度,基材厚度,基材硬度)
解決方法:
1. 晶圓切割選用粘性強,膠層薄,基材彈性小的藍膜或UV膜
2. 保持切割盤(pán)表面陶瓷氣孔無(wú)堵塞,真空吸力均勻,工作盤(pán)平整
晶圓背崩與加工參數4大強相關(guān)因素:
1. 主軸轉速,主軸轉速過(guò)高,每個(gè)磨料顆粒所做的工會(huì )減少,但刀片的自銳能力被抑制,可能發(fā)生鈍化。
2. 進(jìn)給速度,進(jìn)給速度過(guò)高,會(huì )增加刀片的負載,工件產(chǎn)生的應力也較大,容易發(fā)生背崩。
3. 切割深度,切割過(guò)深,刀片負載大,可能存在斷刀風(fēng)險,導致產(chǎn)品背崩。
4. 冷卻水,冷卻水水壓過(guò)大,刀片易變形,水壓過(guò)小冷卻效果不好,產(chǎn)品表面易污染。
解決方法:
1.推薦使用22-35k的主軸轉速;
2.設定合理的進(jìn)給速度;
3.選擇合適的刀刃露出量;
4.控制冷卻水水壓。