CSP封裝定義
在WLP(Wafer Level Package)晶圓級封裝技術(shù)出現之前,傳統封裝工藝步驟是先對晶圓(Wafer)進(jìn)行切割分片(Dicing),然后再封裝(Packaging)成各種形式。
WLP晶圓級封裝技術(shù)于2000年左右問(wèn)世,有Fan-in(扇入式)和Fan-Out(扇出式)兩種類(lèi)型,在封裝過(guò)程中大部分工藝都是對晶圓進(jìn)行操作,即直接在晶圓上進(jìn)行整體封裝,封裝完成后再進(jìn)行切割分片。
因為封裝完成后再進(jìn)行切割分片,所以,封裝后的芯片尺寸和裸芯片幾乎一致,因此也被稱(chēng)為CSP(Chip Scale Package)封裝技術(shù)或者WLCSP(Wafer Level Chip Scale Packaging)封裝技術(shù)。CSP封裝技術(shù)和PCB印刷電路板的連接都是采用倒裝芯片形式,芯片有源面朝下對著(zhù)印刷電路板,可以實(shí)現最短的電路徑,這也保證了更高的傳輸速度和更少的寄生效應。另一方面,由于采用批量封裝,整個(gè)晶圓能夠實(shí)現一次全部封裝,制造成本極大程度的降低也是晶圓級封裝的另一個(gè)推動(dòng)力量。
作為新一代的芯片封裝技術(shù),在BGA、TSOP的基礎上,CSP封裝的性能有了革命性的提升。CSP封裝可以讓芯片面積與封裝面積之比超過(guò)1:1.14,已經(jīng)相當接近1:1的理想情況,絕對尺寸也僅有32平方毫米,約為普通BGA的1/3,僅僅相當于TSOP內存芯片面積的1/6。與BGA封裝相比,同等空間下CSP封裝可以將存儲容量提高三倍。CSP封裝符合消費類(lèi)電子產(chǎn)品輕、小、短、薄化的市場(chǎng)趨勢,寄生電容、電感都比較小,并具有低成本、散熱佳等優(yōu)點(diǎn)。
1.CSP封裝內存不但體積小,同時(shí)也更薄,其金屬基板到散熱體的有效散熱路徑僅有0.2毫米,大大提高了內存芯片長(cháng)時(shí)間運行過(guò)程的可靠性,線(xiàn)路阻抗顯著(zhù)減小,芯片速度也隨之得到大幅度提高。
2.CSP封裝的電氣性能和可靠性相比BGA、TOSP也有相當大的提高。在相同的芯片面積下CSP所能達到的引腳數明顯的要比TSOP、BGA引腳數多的多(TSOP最多304根,BGA以600根為限,CSP原則上可以制造1000根),這樣它可支持I/O端口的數目就增加了很多。此外,CSP封裝內存芯片的中心引腳形式有效的縮短了信號的傳導距離,其衰減隨之減少,芯片的抗干擾、抗噪性能也能得到大幅提升,這也使得CSP的存取時(shí)間比BGA縮短 15%-20%。
3.在CSP的封裝方式中,內存顆粒是通過(guò)一個(gè)個(gè)錫球焊接在PCB板上,由于焊點(diǎn)和PCB板的接觸面積較大,所以?xún)却嫘酒谶\行中所產(chǎn)生的熱量可以很容易地傳導到PCB板上并散發(fā)出去。CSP封裝可以從背面散熱,且熱效率良好,CSP的熱阻為35℃/W,而TSOP熱阻40℃/W。
目前,CSP產(chǎn)品已有100多種,封裝類(lèi)型主要有以下五種:柔性基片CSP、硬質(zhì)基片CSP、引線(xiàn)框架CSP、圓片級CSP、疊層CSP。
不同類(lèi)型的CSP產(chǎn)品有不同的封裝工藝,一些典型的CSP產(chǎn)品的封裝工藝流程如下:
1.柔性基片CSP產(chǎn)品的封裝工藝流程
柔性基片CSP產(chǎn)品,它的芯片焊盤(pán)與基片焊盤(pán)間的連接方式可以是倒裝片鍵合、TAB鍵合、引線(xiàn)鍵合。采用的連接方式不同,封裝工藝也不同。
(1)采用倒裝片鍵合的柔性基片CSP的封裝工藝流程
圓片→二次布線(xiàn)(焊盤(pán)再分布) →(減薄)形成凸點(diǎn)→劃片→倒裝片鍵合→模塑包封→(在基片上安裝焊球) →測試、篩選→激光打標。
(2)采用TAB鍵合的柔性基片CSP產(chǎn)品的封裝工藝流程
圓片→(在圓片上制作凸點(diǎn))減薄、劃片→TAB內焊點(diǎn)鍵合(把引線(xiàn)鍵合在柔性基片上) →TAB鍵合線(xiàn)切割成型→TAB外焊點(diǎn)鍵合→模塑包封→(在基片上安裝焊球)→測試→篩選→激光打標。
(3)采用引線(xiàn)鍵合的柔性基片CSP產(chǎn)品的封裝工藝流程
圓片→減薄、劃片→芯片鍵合→引線(xiàn)鍵合→模塑包封→(在基片上安裝焊球) →測試、篩選→激光打標。
2.硬質(zhì)基片CSP產(chǎn)品的封裝工藝流程
硬質(zhì)基片CSP產(chǎn)品封裝工藝與柔性基片的封裝工藝一樣,芯片焊盤(pán)與基片焊盤(pán)之間的連接也可以是倒裝片鍵合、TAB鍵合、引線(xiàn)鍵合。它的工藝流程與柔性基片CSP的完全相同,只是由于采用的基片材料不同,因此,在具體操作時(shí)會(huì )有較大的差別。
3.引線(xiàn)框架CSP產(chǎn)品的封裝工藝流程
引線(xiàn)框架CSP產(chǎn)品的封裝工藝與傳統的塑封工藝完全相同,只是使用的引線(xiàn)框架要小一些,也要薄一些。因此,對操作就有一些特別的要求,以免造成框架變形。
引線(xiàn)框架CSP產(chǎn)品的封裝工藝流程如下:
圓片→減薄、劃片→芯片鍵合→引線(xiàn)鍵合→模塑包封→電鍍→切篩、引線(xiàn)成型→測試→篩選→激光打標。
4.圓片級CSP產(chǎn)品的封裝工藝流程
(1)在圓片上制作接觸器的圓片級CSP的封裝工藝流程
圓片→二次布線(xiàn)→減薄→在圓片上制作接觸器→接觸器電鍍→測試、篩選→劃片→激光打標。
(2)在圓片上制作焊球的圓片級CSP的封裝工藝流程
圓片→二次布線(xiàn)→減薄→在圓片上制作焊球→模塑包封或表面涂敷→測試、篩選→劃片→激光打標。
5.疊層CSP產(chǎn)品的封裝工藝流程
疊層CSP產(chǎn)品使用的基片一般是硬質(zhì)基片。
(1)采用引線(xiàn)鍵合的疊層CSP的封裝工藝流程
圓片→減薄、劃片→芯片鍵合→引線(xiàn)鍵合→包封→在基片上安裝焊球→測試→篩選→激光打標。
采用引線(xiàn)鍵合的CSP產(chǎn)品,下面一層的芯片尺寸最大,上面一層的最小。芯片鍵合時(shí),多層芯片可以同時(shí)固化(導電膠裝片),也可以分步固化;引線(xiàn)鍵合時(shí),先鍵合下面一層的引線(xiàn),后鍵合上面一層的引線(xiàn)。
(2)采用倒裝片的疊層CSP產(chǎn)品的封裝工藝流程
圓片→二次布線(xiàn)→減薄、制作凸點(diǎn)→劃片→倒裝鍵合→(下填充)包封→在基片上安裝焊球→測試→篩選→激光打標。
在疊層CSP中,如果是把倒裝片鍵合和引線(xiàn)鍵合組合起來(lái)使用。在封裝時(shí),先要進(jìn)行芯片鍵合和倒裝片鍵合,再進(jìn)行引線(xiàn)鍵合。